Zeiss Surfcom Crest Surface-contour数控站
通过蔡司
身份证：
Surfcom Crest.
产品信息
描述
Surfcom Crest CNC测量站，用于组合轮廓和表面测量。Zeiss轮廓和表面测量技术的旗舰具有高分辨率和激光干涉测量系统。Surfcom Crest通常用于校准实验室。
精确的，通用，动态 - 冲浪孔CRET正在精确和速度设定新标准。机器在一个测量运行中测量表面参数和轮廓，并在测量范围和42,000,000：1的分辨率之间具有极好的比例。
这使SURFCOM波峰能够在很大范围内测量最轻微的表面粗糙度和轮廓，所有这些都在一次测量中完成。SURFCOM波峰在Z轴上工作，使用激光干涉仪作为测量系统，使其非常精确。测量站采用线性驱动，确保其速度明显快于传统主轴驱动的测量机，且振动更低。旋转的线性X跟踪驱动器还可以使倾斜工件具有更大的灵活性。
Surfcom Crest弯曲其肌肉，其中精密和吞吐量至关重要：在汽车技术，机械工程和医疗技术行业。例如：Surfcom Crest非常适合镜片，精密轴承，驱动锭子，轨道，喷射器，植入物和精确铣削，地，珩磨和研磨部件。这就是为什么Surfcom Crest通常在校准实验室中找到。
好处
分辨率为0.31纳米，测量结果极为稳定和精确。SURFCOM CREST的分辨率比传统系统高五倍
激光干涉仪作为最大精度的测量系统。
X方向的测量误差：±（0.2+L/1000）µm
测量范围与分辨率期间的极好比率。可以在一个运行中测量非常大的测量范围内的最轻微的表面粗糙度和轮廓。
由于广泛的自动化可能性，更多的吞吐量
通过CNC旋转追踪驱动器，±45°旋转范围和200毫米追踪驱动器的倾斜功能较高的灵活性
用于测量深度特征的长渗透深度
借助圆柱形触针和手臂系统，轻松实现自动测量
使用T形触针轻松测量直径或壁厚
由于测量范围的优异比例更准确和普遍，可以：4200万到1
规格
- 细节：分辨率0.31 nm（50 mm手写笔）
X轴直线度误差0.11μm，具有200 mm测量路径
X轴测量误差±0.4μm，具有200 mm测量路径
遍历长度/分辨率：200 mm / 0.54 nm
触针和臂偏转：13毫米（50毫米触针）
26毫米（100 mm手写笔）
测量速度0.03 mm / s - 20 mm / s
定位速度高达200毫米/秒 - 规格：吞吐量明显高于传统的解决方案，非常适合于批量生产的自动质量保证高度灵活：机器的设计非常适合与组件特定夹具的连接完全自动数控表面测量：谢谢，更可靠，更具成本效益，谢谢5CNC轴通过集成旋转传感器的X轴测量中的X轴测量中的集成专利y跟踪驱动器更短，由于X轴定位中的非接触线性驱动，通过集成旋转传感器的X轴测量中的X轴测量中的X轴测量。速度为100 mm / s，用于高测量效率，即使在大型组件上为大量的最大操作员和机器安全设计可选：CNC触控笔切换可选：额外的旋转轴和尾部用于曲轴和凸轮轴的全自动测量